1.get_attribute_value_list [get_pins xx_CORE/u_xx_top/u_sram_wtsel_1_dft_mx/CI1] -name tie_value獲取某個(gè)pin 的值應(yīng)該類(lèi)似dc 工具get_attribute [get_pin *] case_value2.mbist 中添加新測(cè)試算法方法3.4.string map 命令用于根據(jù)字符映射對(duì)字符串進(jìn)行轉(zhuǎn)換如果指定了-nocase選項(xiàng)則在替換時(shí)不考慮大小寫(xiě)差異例如string map {f p d l} foodstring map {f pp d ll oo a} food5獲取parent instance可以看到這里的接口控制管腳遠(yuǎn)遠(yuǎn)多于簡(jiǎn)單的memory array的控制需求具體每一個(gè)管腳的配置用途詳見(jiàn)下表管腳 方向 描述 分類(lèi)VDD 輸入 外圍控制器件供電 電源地VDDM 輸入 memory array供電 電源地VSS 輸入 memory array和外圍器件接地 電源地A[*] 輸入 地址輸入 功能D[*] 輸入 數(shù)據(jù)輸入 功能BWEB[*] 輸入 位寫(xiě)控制 功能CEB 輸入 片選 功能WEB 輸入 寫(xiě)控制 功能REDENIO 輸入 列修復(fù)冗余控制 功能Q[*] 輸出 memory array 數(shù)據(jù)輸出 功能FADIO[*] 輸入 失效位地址控制 BIST測(cè)試DM[*] 輸入 BIST數(shù)據(jù)輸入 BIST測(cè)試AM[*] 輸入 BIST地址輸入 BIST測(cè)試BWEBM[*] 輸入 BIST位寫(xiě)控制 BIST測(cè)試CEBM 輸入 BIST片選 BIST測(cè)試WEBM 輸入 BIST寫(xiě)控制 BIST測(cè)試BIST 輸入 BIST控制 BIST測(cè)試DSLP 輸入 deep sleep模式memory array訪(fǎng)問(wèn)禁止但是memory數(shù)據(jù)會(huì)被保存 低功耗控制SD 輸入 shut down關(guān)斷全部memory array和絕大部分外設(shè)邏輯 低功耗控制PUDELAY_SD 輸出 shutdown 輸出標(biāo)記用于指引低功耗策略 低功耗PUDELAY_DSLP 輸出 deepsleep 輸出標(biāo)記用于指引低功耗策略 低功耗DSLPLV 輸入 deepsleep模式下retention diode的bypass控制 低功耗TSEL pin : WTSEL[]/RTSEL[] 輸入 時(shí)序微調(diào) 測(cè)試TSEL pin : WTSEL[]/RTSEL[] 輸入 時(shí)序微調(diào) 測(cè)試TSEL pin : WASEN 輸入 寫(xiě)輔助使能 測(cè)試TSEL pin : WASSEL[*] 輸入 寫(xiě)輔助微調(diào) 測(cè)試6.scan chain 分組步驟7. bsd 如何分組串chain1.讀pin_order_file2.劃分group8.9.用 tessent shell insert mbist回路在TAP protocal中為什么TCK period一定要是BIST CLK period的4倍?應(yīng)該是TCK作為BIST_CLK的data pin用如果TCK period 4 x BIST_CLK的話(huà)TCKBIST_EN之后就不是一個(gè)全period信號(hào)導(dǎo)致后面BIST_CLK FF可能踩不到正確值10.merge external fault 到test coverage統(tǒng)計(jì)